图书信息：
书 名：集成电路反向分析技术 作 者：丁柯 蒋卫军 张军 编著 图书策划：北京世图版权代理有限公司（出书网chushu.cn） 出 版 社：中国科学技术出版社 书 号：ISBN 978-7-5046-5769-5 定 价：65.00元 出版时间：2011.4
作者简介：
丁柯，1975年2月出生于江西省南昌市，1997年毕业于中国科学技术大学计算机系，获得理学学士学位；2002年毕业于中国科学院软件研究所，获得工学博士学位。 蒋卫军，1975年3月出生于江苏省张家港市，1997年毕业于中国科学技术大学计算机系，获理学学士学位；2000年毕业于中国科学院自动化研究所，获工学硕士学位。 张军，1975年1月出生于河南省漯河市，1997年毕业于北京科技大学金属材料系，获得工学学士学位。
内容简介：
《集成电路反向分析技术》一书是集成电路反向分析领域的第一本专著。该书正文约300页，内容分为十章。该书较为全面、系统地阐述了集成电路反向分析技术的完整流程和相关技术，介绍了目前广泛采用且行之有效的反向分析方法学。该书详细介绍了芯片解剖和工艺分析、图像采集和处理、网表提取、存储器分析、层次化整理、版图设计及验证、仿真等内容。为体现实用性，该书的第九章和第十章分别对ChipLogic Family和Hierux System等最普遍使用的芯片反向分析EDA软件工具进行了综述。该书可作为国内大专院校微电子或相关专业的本科或硕士教材，也可以作为集成电路设计人员的技术参考书。
目录：
第1章 集成电路分析技术概述1.1 反向分析概述1.2 反向分析技术的主要应用领域1.3 反向分析的主要技术难点1.4 反向分析技术的发展历史、现状和趋势1.5 反向分析的争议性1.6 本章小结1.7 参考文献第2章 芯片解剖及工艺分析2.1 集成电路制造工艺概述2.2 封装解剖分析2.3 管芯去层2.4 管芯染色2.5 芯片工艺分析技术2.6 本章小结2.7 参考文献第3章 图像采集和处理3.1 概述3.2 芯片图像采集3.3 芯片图像拼接与对准3.4 计算机辅助采集和处理系统(Filmshop)3.5 本章小结3.6 参考文献第4章 网表提取 4.1 网表提取概述 4.2 芯片布局分析 4.3 网表提取流程 4.4 模拟器件提取 4.5 基本数字单元提取 4.6 计算机辅助网表提取技术 4.7 本章小结 4.8 参考文献第5章 存储器分析 5.1 存储器概述 5.2 地址译码器 5.3 静态随机存储器（SRAM） 5.4 动态随机存储器（DRAM） 5.5 掩膜型只读存储器（mask ROM） 5.6 可编程只读存储器（PROM） 5.7 铁电随机存储器（FRAM） 5.8 存储器分析的EDA工具 5.9 本章小结 5.10 参考文献第6章 版图设计及验证 6.1 版图基础知识 6.2 版图设计流程 6.3 数字电路的版图仿制 6.4 模拟电路的版图仿制 6.5 实
